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中恒微推出采用全新一代 750V 新技術(shù)車規(guī)級芯片的Mini Z3功率模塊

時(shí)間:2024-12-23




在全球新能源汽車行業(yè)蓬勃發(fā)展的浪潮中,高效、可靠的電力電子組件成為推動(dòng)行業(yè)前進(jìn)的關(guān)鍵力量。中恒微半導(dǎo)體作為行業(yè)內(nèi)的佼佼者,隆重推出 Mini Z3 封裝的車用 IGBT 模塊,采用新一代的750V 新技術(shù)車規(guī)級芯片,進(jìn)一步提升車用IGBT模塊的性能。



一、產(chǎn)品介紹


中恒微Mini Z3 封裝功率模塊優(yōu)先推出750V-650A 產(chǎn)品,采用三相六單元電路拓?fù)?/strong>,型號:6H650H08A1P。

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產(chǎn)品電壓:750V



產(chǎn)品電流:650A



產(chǎn)品特點(diǎn):

① 阻斷電壓750V

② 低飽和壓降

③ 低開關(guān)損耗

④ 低柵極電荷和反向傳輸電容

⑤ 低雜散電感設(shè)計(jì)

⑥ 短時(shí)間最高運(yùn)行溫度Tvj op = 175°C

應(yīng)用方向



汽車應(yīng)用



混合動(dòng)力汽車



電機(jī)驅(qū)動(dòng)



商用農(nóng)業(yè)機(jī)車


二、芯片介紹


中恒微半導(dǎo)體的新一代750V 車規(guī)級 IGBT 芯片采用薄化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),帶來顯著的性能提升。

(a) 降低導(dǎo)通壓降

通過減少芯片厚度,載流子路徑長度縮短,導(dǎo)通電阻降低,導(dǎo)通壓降(Vce (sat))顯著降低約 15%,提升了器件的能效和熱性能。


(b) 優(yōu)化抗震蕩能力

針對芯片薄化可能帶來的耐量損失和開關(guān)震蕩問題,通過深入分析芯片內(nèi)部電場分布和空穴密度變化,采用背面結(jié)構(gòu)方案進(jìn)行改善。在關(guān)斷測試中展現(xiàn)出更好的抗震蕩能力,有效控制高 di/dt 條件下載流子的排除速度,降低開關(guān)過程中的震蕩風(fēng)險(xiǎn)。


(c) 抑制短路柵極震蕩

新的背面結(jié)構(gòu)在短路過程中雖引起柵極波形震蕩,但通過優(yōu)化設(shè)計(jì)參數(shù),調(diào)整注入量改變基極傳輸效率,成功抑制了短路柵極震蕩,提高了器件的可靠性和穩(wěn)定性。關(guān)斷損耗(Eoff)進(jìn)一步降低約 20%,延長了器件使用壽命。


三、性能介紹


(a) 在安全工作區(qū)方面,Mini Z3 采用雙脈沖測試,可滿足兩倍額定電流(1300A)下正常關(guān)斷,雙脈沖波形無震蕩,具備高安全性。

(b) 在電性能方面,通過靜態(tài)測試和動(dòng)態(tài)測試結(jié)合評估,相較于原采用的車規(guī)級750V 芯片,在相同封裝測試條件下進(jìn)行了測試對比,開關(guān)性能均有顯著提升,開關(guān)波形光滑,沒有震蕩,安全性高。

(c) 得益于新技術(shù)芯片的低損耗特性,中恒微車規(guī)級 IGBT 模塊的能效得到了顯著提升。同時(shí),高電流密度使得功率密度更大,能夠在更小的體積內(nèi)提供更大的功率輸出。搭配中恒微成熟的車規(guī)級封裝工藝,產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下依然能夠可靠工作。


四、工藝介紹


(a) Mini Z3在工藝上進(jìn)行了技術(shù)升級。功率端子和信號端子采用先進(jìn)的超聲焊技術(shù),提升了焊接精度與強(qiáng)度。該技術(shù)使材料在分子層面熔合,增強(qiáng)了焊接部位的強(qiáng)度和耐久性,并降低了電阻率變化,提高了導(dǎo)電性能及可靠性。


(b) 底部散熱器采用橢圓形設(shè)計(jì),相比傳統(tǒng)圓柱形散熱柱,提供了更大的接觸面積,熱傳導(dǎo)效率更高,溫度降低約10℃,散熱能力得到提升。此外,此設(shè)計(jì)有助于減少底部應(yīng)力集中,降低因熱膨脹導(dǎo)致的損壞風(fēng)險(xiǎn)。



車用 IGBT 模塊市場應(yīng)用前景廣闊,隨著新能源汽車對高性能電力電子組件的需求日益增長,中恒微 Mini Z3 車用 IGBT 模塊的高效率和高可靠性將成為市場上的有利競爭優(yōu)勢,產(chǎn)品的未來表現(xiàn)值得期待。


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